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半导电性粉体电阻率测试系统代替三菱化学mcp-pd51
产品型号:elipms-2000plus
产品品牌:
产品简介: 半导电性粉体电阻率测试系统代替三菱化学mcp-pd51 三菱化学mcp-pd51粉末电阻测试仪改进型(直线电缸伺服驱动)粉末电阻率测试系统 improved powder resistivity measuring system 多用途(粉末电阻率、密度及成型片状材料测试) 四探针测试原理 型号:elipms-2000plus

半导电性粉体电阻率测试系统代替三菱化学mcp-pd51

半导电性粉体电阻率测试系统代替三菱化学mcp-pd51

品名称:粉体阻抗测定系统 mcp-pd51
特色:﹢用于研究开发、质量管理线,执行粉体之物性管理
﹢与阻抗率计loresta-gp,hiresta-up连接,以测定广范围之粉体之低阻抗、高阻抗
﹢样品的交换、清扫简单、可采一触式着离探头
﹢各种粉体的形状,粒径分布之不同依压力依存性把握其阻抗率及压缩容积
﹢测定及数据、备有达执行图形化之软件以供选购
测定对象:金属粉、碳粉类、陶磁粉…等导电性粉体


阻性粉末材料研发及品质控制

一、 elipms-2000plus 粉末电阻率测试系统安装的现场条件: 

1) 主体部分: 约 w340*d270*h630mm(不含包括展开搬运手柄及 mcp-t700 部分尺寸); 

 2) 安装空间: 需大于 w1500*d700mm 的台面(考虑电脑及操作的空间); 

 3) 工作台承载: 预备承载大于 70kg 工作台; 

 4) 电源:220v/50hz/500va,标准专用地线。需大于 3 个电源插座孔位。

二、 elipms-2000plus 粉体电阻率测试系统组成、功能、性能表: 1、产品综述及特点: 

1) 内置的精密四探针探头模腔组件及精密荷重测力传感器单元,施加压力 30kn,约 95mpa; 在压力范围内可设置任意压力点进行测试分析。一键启动,自动进行加压、测试、释放。

2) 简易操作软件界面,可设置不同压力点及保压时间(保压时间到再测试),自动测量压实下粉 末之电阻、电阻率、电导率、厚度、压强、颗粒压实密度特性等参数。

3) 系统通过与三菱化学 loresta-gx(mcp-t700)高精度四探针仪连接,可测试宽范围之粉体阻 抗特征。 电阻测试范围:0.001*10-4~9.999*107 ω; 电阻率=ω*rcf*trcf 为纠正因子,t 为厚度单位 cm) 

4) 的探针单元,高精度四探针测试原理,消除样品与探头及引线所引起的误差。  也可以裁剪φ20mm 的正负电极片样品来测试电池极片在不同压力下的电阻变化; 或者单独使用 mcp-t700 及其标配探头或选配探头来测试片材,所谓多用途。

2、应用范围: 阻性粉末材料研发及品质控制。 

3、测试领域: 碳 粉--- 充电电池的电极材料、电子材料(电容器,电阻等)、活性炭、焦、石墨、碳黑色、

碳纤维纳米碳等。 金属粉末--- 电池的电极材料、薄膜材料(铜粉末、ito 粉末等等)、导电膏、

导电油漆和涂料、绿 色接触材料等。 其它粉末--- 墨粉和相关的粉体/磁性材料如铁素体、汽车配件等材料。

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